中新網(wǎng)8月4日電 今年2月以來(lái)，國際學(xué)生一次性獲得簽證率提高，安全檢查和背景審核呈直線(xiàn)下降的趨勢。紐約中國學(xué)生學(xué)者聯(lián)誼總會(huì )部分負責人認為，這得益于美國相關(guān)當局啟用學(xué)生互訪(fǎng)和信息系統(簡(jiǎn)稱(chēng)SEVIS系統)。
據美國僑報報道，紐約中國學(xué)生學(xué)者聯(lián)誼總會(huì )的一些負責人，對于8月1日起全面施行的SEVIS系統表示歡迎和支持，認為SEVIS系統的啟用和功能逐步完善，對留學(xué)人員來(lái)說(shuō)是一件好事。
美國國務(wù)院領(lǐng)事司長(cháng)哈特今年2月份向紐約學(xué)聯(lián)坦承，運用SEVIS系統查閱學(xué)生檔案，只需要幾秒鐘就能調出一個(gè)學(xué)生的檔案，大大提高了效率。
紐約中國學(xué)生學(xué)者聯(lián)誼總會(huì )常務(wù)副主席張清、吳華強、萬(wàn)千7月31日表示，紐約學(xué)聯(lián)所征集的400多個(gè)案例中，大約有30-40%已經(jīng)陸續獲得簽證，還有一些仍然在等待。
紐約學(xué)聯(lián)對于8月1日起施行的SEVIS系統表示歡迎和支持，因為SEVIS系統的啟用和功能逐步完善，對留學(xué)人員來(lái)說(shuō)，是一件大事，通過(guò)其完整資料庫，美國相關(guān)當局可以及時(shí)獲得國際學(xué)生資料。
